• Reklama
    A1 - kabe

Szukaj

    Reklama
    B1 - konica minolta 18.02.2022-31.12.2024 Bogumiła

    ARTYKUŁY

    Wydanie nr: 3(149)/2024

    Artykuły branżowe

    Badanie Powłok

    19 dni temu  05.06.2024, ~ Administrator,   Czas czytania 5

    Fot. 1. PosiTector 200B Advanced

    Fot. 1. PosiTector 200B Advanced

    Pomiary powłok lakierniczych na tworzywach sztucznych

    Tworzywa sztuczne stanowią istotne elementy wielu produktów. Ich zaletą, oprócz trwałości i łatwości formowania, są oczywiste walory estetyczne. W celu podkreślenia tych walorów estetycznych elementy z tworzyw sztucznych są bardzo często lakierowane. Powłoka lakiernicza musi spełniać określone parametry, takie jak: grubość, przyczepność, połysk czy barwa. W celu ich określenia stosuje się różne, często normatywne metody pomiarowe.

    Jednym z najistotniejszych parametrów jest grubość powłoki lakierniczej. Jest ona ważna nie tylko ze względu na właściwości mechaniczne, ale również ze względu na cechy wizualne. Prawidłowa grubość powłoki zapewnia odpowiednią siłę krycia podłoża, a co za tym idzie prawidłowy kolor i połysk, czyli wygląd detalu.
    O ile pomiar grubości powłoki na podłożach metalowych jest technologicznie rozwiązany od bardzo wielu lat i nie nastręcza większych trudności pomiarowych, to pomiar na materiach niemetalowych, takich jak tworzywa sztuczne, drewno czy szkło, wciąż jest rzadkością i potrafi stawiać spore wymagania operatorom.
    Często spotykanym pomiarem grubości powłok na tego typu podłożach są pomiary niszczące, polegające na przecięciu bądź nawierceniu powłoki i poprzez okular mikroskopu pomierzenie grubości jednej lub wielu warstw powłoki. O ile ze względów metrologicznych metody te są dokładne i posiadają duży stopień...

    Treść dostępna tylko dla prenumeratorów

    Jeśli nie masz jeszcze prenumeraty kliknij tutaj i zamów ją już dziś
    Zaloguj lub zarejestruj się, aby przeczytać całość

    Zaloguj się

    Zaloguj się do konta użytkownika.

    GALERIA ZDJĘĆ

    Fot. 2. ElektroPhysik QuintSonic T
    Fot. 3. Sygnał akustyczny w powłoce
    Fot. 4. Pomiar jednowarstwowy i wielowarstwowy
    Fot. 5. Pomiar w trybie najgłośniejszego i najgłębszego echa

    Komentarze (0)

    dodaj komentarz
    Aby dodać komentarz musisz podać wynik
      Nie ma jeszcze komentarzy...