Miernik TestAn DT-M206
Pomiary siły krycia (opacity) mogą odbywać się za pomocą specjalnych przyrządów zwanych opacity-meter albo za pomocą spektrofotometrów lub kolorymetrów, pozwalających na pomiar barwy powłoki w przestrzeni CIE XYZ.
Pomiar współczynnika kontrastu odbywa się następująco: powłoka nałożona na dwóch podłożach, czarnym i białym, jest mierzona według parametru luminancji i w przypadku braku różnic na obu próbkach możemy mówić, że powłoka do danej grubości osiągnęła pełną siłę krycia.
Współczynnik kontrastu oblicza się za pomocą następującego równania: CR = (Yb/ Yw) x 100, gdzie Yb jest trójchromatyczną wartością Y CIE obliczoną dla pomiaru próbki na czarnym podłożu, a Yw jest wartością trójchromatyczną CIE obliczoną dla pomiaru próbki na białym podłożu. Należy zauważyć, że zmiana parametrów pomiaru, takich jak źródło światła i/lub kąt obserwatora (np. D65/10° vs. A/10° vs C/2°) może bardzo dobrze zmienić obliczoną CR, tak samo jak zmiana konfiguracji spektrofotometru (np. wielkość apertury/pola pomiarowego, geometria pomiaru, schemat pomiaru SCI/SCE).
W kolejnych akapitach zobrazujemy wyniki siły krycia wykonane różnymi przyrządami. W celu wygodnego przeprowadzenia pomiaru siły krycia dla różnych grubości warstwy wykorzystano półprzepuszczalne folie o grubości ok. 200 μm każda. Siła krycia każdej z pojedynczych folii była podobna, a nałożone na siebie zwiększały grubość testowej powłoki. Kontrastowym podłożem była czarno-biała karta testowa TQC o zwiększonym kontraście optycznym.
Do pomiarów wykorzystano spektrofotometr TestAn DT-S7700, miernik siły krycia TestAn DT-M206 oraz miernik siły krycia NovoShade Duo+.
Miernik NovoShade Duo+
Spektrofotometr TestAn DT-S7700
Tabela prezentuje zmiany wartości siły krycia wraz ze wzrostem grubości powłoki na kontrastowym, biało-czarnym podłożu. Wartość 0 oznacza całkowitą przezroczystość (brak krycia podłoża), a wartość 100 to pełne krycie, bez wizualnego oddziaływania podłoża.
Przeprowadzone badanie wykazało, że uzyskana wartość siły krycia mierzona za pomocą specjalnie dedykowanych do tego instrumentów (tzw. opacity-meter), jak i popularnych przyrządów do pomiaru barwy (spektrofotometr), daje w pełni porównywalne wyniki pozwalające w sposób dokładny i powtarzalny określić, jaka grubość powłoki zapewnia nam odpowiednią w naszych zastosowaniach siłę krycia.
