Sondę do badania profilu powierzchni i grubości powłoki można łatwo wymienić za pomocą przyrządów z serii FISCHER FMP. Ten podwójny instrument jest idealnym narzędziem do pomiaru zniszczonej powierzchni.
Przed nałożeniem na nią powłoki zasadnicze znacznie ma przygotowanie powierzchni podłoży i wybór metody czyszczenia ściernego, która ma być zastosowana. Podobnie kluczowe znaczenie ma zmierzenie i zarejestrowanie szczytowej głębokości od wierzchołka do wgłębienia profilu, który powstanie podczas przygotowywaniu powierzchni. Seria FMP instrumentu zapewnia - poprzez wykorzystanie sondy profilowej powierzchni - szybkie i powtarzalne pomiary. Posiadanie takiej sondy na oddzielnym kablu pozwala na odczyty na obszarach, gdzie wykorzystanie wbudowanych sond jest niemożliwe. Pomiary są wykonywane zgodne z normą ASTM D4417 - metoda B oraz z innymi normami międzynarodowymi.
Próbnik do badania profilu powierzchni FISCHER jest wykonany z bardzo wytrzymałego materiału i zapewnia użytkownikowi elastyczną wymianę końcówki. Duży kolorowy wyświetlacz, z paskiem postępu do śledzenia liczby wymaganych pomiarów na danym obszarze, dostarcza użytkownikowi zaktualizowane dane i wyniki.
