Firma X-Rite wprowadziła na rynek spektrofotometr CiF3200 do pomiaru koloru małych, silnie odbijających światło przedmiotów o nietypowych kształtach. Jest to idealne rozwiązanie do zastosowań, w których szczegóły, spójność i dokładność są niezbędne, zwłaszcza takich jak: towary luksusowe, elektronika użytkowa i elementy z tworzyw sztucznych.
Dzięki minimalnemu obszarowi pomiarowemu wynoszącemu zaledwie 2 mm, urządzenie CiF3200 umożliwia ustawianie i przekazywanie cyfrowych pomiarów kolorów dla małych komponentów oraz wyodrębnianie wielu kolorów z pojedynczej próbki w celu przeprowadzenia kompleksowej analizy.
– Odpowiadamy na wyjątkową potrzebę w branży – jak w powtarzalny sposób mierzyć kolor na małych detalach o nietypowym kształcie – powiedział Dave Visnovsky, Product Manager w X-Rite. – Łącząc zaawansowane celowanie i obrazowanie z technologią pomiaru sferycznego i aperturą 2 mm, urządzenie CiF3200 pozwala na digitalizację standardów i usprawnienie kontroli jakości w sposób, który po prostu nie był wcześniej możliwy.
